作者: 發(fā)布時(shí)間:2024-06-13 瀏覽次數(shù) : 325
光學(xué)非接觸測量儀是一種先進(jìn)的測量設(shè)備,它利用光學(xué)原理來測量目標(biāo)物體的尺寸、形狀、表面質(zhì)量等特征參數(shù),而無需與目標(biāo)物體進(jìn)行直接接觸。這種測量方式具有高精度、高速度、非破壞性等特點(diǎn),在多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
光學(xué)非接觸測量儀
工作原理
光學(xué)非接觸測量儀的工作原理主要基于光學(xué)傳感技術(shù)。它利用光源發(fā)射出的光線照射到目標(biāo)物體上,并通過光學(xué)傳感器接收被目標(biāo)物體反射、散射、透射的光線,進(jìn)而獲得目標(biāo)物體的相關(guān)信息。根據(jù)不同的應(yīng)用需求,光學(xué)非接觸測量儀可以采用不同的測量方法,包括三角測量法、位移干涉法、散斑法等。
三角測量法
三角測量法是一種常見且基本的光學(xué)非接觸測量方法。它利用光學(xué)傳感器對目標(biāo)物體上特定點(diǎn)的位置進(jìn)行測量,并進(jìn)而計(jì)算出目標(biāo)物體的尺寸、角度等參數(shù)。該方法適用于需要進(jìn)行尺寸測量和形狀分析的場合,如機(jī)械制造、工業(yè)檢測等。通過對目標(biāo)物體上多個(gè)點(diǎn)的測量,可以還原出整個(gè)目標(biāo)物體的三維形狀信息。
位移干涉法
位移干涉法是另一種常用的光學(xué)非接觸測量方法。它利用光學(xué)干涉原理,通過測量目標(biāo)物體表面的位移信息來確定目標(biāo)物體的形狀和表面質(zhì)量。該方法具有高精度和高靈敏度的特點(diǎn),適用于需要進(jìn)行微小位移測量和表面質(zhì)量評估的領(lǐng)域,如半導(dǎo)體制造、精密光學(xué)加工等。
散斑法
散斑法是光學(xué)非接觸測量中的一種特殊方法。它利用激光照射到目標(biāo)物體表面產(chǎn)生的散斑圖案來獲得目標(biāo)物體的表面形貌信息。通過對散斑圖案的分析和處理,可以實(shí)現(xiàn)對目標(biāo)物體表面粗糙度、高度差等參數(shù)的測量。散斑法具有非接觸、高靈敏度的特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。
主要特點(diǎn)
光學(xué)非接觸測量儀的主要特點(diǎn)包括:
非接觸性:測量時(shí)不需與測量物接觸,避免了因接觸帶來的變形影響。
高精度:能夠?qū)崿F(xiàn)微小位移和表面質(zhì)量的高精度測量。
高速度:測量速度快,大大提高了工作效率。
靈活性:可以根據(jù)不同的測量需求選擇不同的測量方法和組合,適應(yīng)多種應(yīng)用場景。
可靠性:通過大量的數(shù)據(jù)獲取和計(jì)算機(jī)處理,保證了測量結(jié)果的可靠性和重復(fù)性。
綜上所述,光學(xué)非接觸測量儀以其獨(dú)特的原理和特點(diǎn),在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景。
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